近紅外顯微分光測定儀 USPM-RU-W
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從380nm~1050nm的可視光至近紅外實現大範圍波長區域中的分光測定


奧林巴斯的近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W可以高速&高精細地進行可視光區域至近紅外區域的大範圍波長的分光測定。

由於其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細微區域、曲麵的反射率，因此十分適用於光學元件與微小的電子部件等產品。




實的測定功能

使用一台即可進行反射率、膜厚、物體顏色、透過率、入射角45度反射率的各種分光測定。

測定反射率
測定以物鏡聚光φ17～70μm的微小點的反射率。

反射率測定光路圖

  
反射率測定例：鏡片                                  反射率測定例：鏡片周邊部位

膜厚測定的圖例

測定膜厚


活用反射率數據，測定約50nm～約10μm的單層膜、多層膜的膜厚。
 

測定物體顏色


根據反射率數據顯示XY色度圖、L*a*b色度圖及相關數值。              
測定透過率

從受台下部透過φ2mm的平行光，測定平麵樣品的透過率。（選配）

透過率測定光路圖

測定入射角為45度的反射率
從側麵向45度麵反射φ2mm的平行光，測定其反射率。（選配）

45度反射率測定光路圖
域的高精度&高速測定

  

光學係圖

實現高速測定

使用平麵光柵及線傳感器進行全波長同時分光測定，從而實現高速測定。

                                                                   反射率測定圖例  

                       

*適用於測定細小部件、鏡片的反射率


新設計了可以在φ17~70μm的測定區域中進行非接觸測定的專用物鏡。通常的分光光度計不能進行測定的細小電子部件或鏡片等的曲麵，也可以實現再現性很高的測定。

                               

消除背麵反射光的原理                                         

定反射率時，不需要背麵防反射處理


將專用物鏡與環形照明組合，不需要進行被檢測物背麵的防反射處理，就可測定*薄0.2mm的反射率*。

可選擇的膜厚測定方法
根據測定的分光反射率數據進行單層膜或多層膜的膜厚解析。可以根據用途選擇*佳的測定方法。

                                                               

峰穀法膜厚解析經過信息圖例

峰穀法

這是一種根據測定的分光反射率值的峰值與低穀的周期性計算出膜厚的方法，對於測定單層膜是有效的。不需要複雜的設置，可以簡單地求出。

  

                                                                               

傅裏葉轉換法膜厚解析經過信息圖例

傅裏葉轉換法

這是一種根據測定的分光反射率值的周期性計算膜厚的方法，對於單層膜及多層膜的測定有效。難以檢測出峰值及低穀等時，可以幾乎不受噪音的影響進行解析。

  

                                                                                                         

曲線調整法膜厚解析經過信息圖例

曲線調整法


這是一種通過推算測定的分光反射率值與根據某種膜構造計算的反射率的差達到*小的構造計算出膜厚的方法，對於單層膜及多層膜的測定有效。還可以進行不會出現峰值及低穀的薄膜解析。

多樣化應用
高速、高精度地應對多樣化測定需求。

                                
 通過測定球麵、非球麵的鏡片、濾鏡、反射鏡等光學元件的反射率，進行塗層評價、物體顏色測定、膜厚測定。

數碼相機鏡片

投影儀鏡片
光讀取頭鏡片
眼鏡片


適用於LED反射鏡、半導體基板等微小電子部件的反射率測定、膜厚測定。


LED包裝
半導體基板

適用於平麵光學元件、彩色濾鏡、光學薄膜等的反射率測定、膜厚測定、透過率測定。


液晶彩色濾鏡
光學薄膜

適用於棱鏡、反射鏡等45度入射產生的反射率測定。                                  


棱鏡
反射鏡